电子辐照Kapton/Al薄膜力学性能退化规律与机理研究

作者：沈自才; 牟永强; 吴宜勇

来源：装备环境工程, 2015, (03): 42-44+69.

• 薄膜材料
• 力学性能
• 电子辐照 thin film material
• mechanical property
• electron radiation

目的为航天器用Kapton/Al薄膜材料的选用提供数据支撑和高性能Kapton/Al薄膜材料的研制提供理论支持。方法用综合辐照试验装置对Kapton/Al薄膜材料进行电子辐照,用拉力试验机对Kapton/Al薄膜材料开展力学性能拉伸试验,用XPS对其成分和微观结构进行测试分析。结果Kapton/Al薄膜材料的抗拉强度和断裂伸长率随着拉伸速度的增加而降低,随着电子辐照注量的增加呈指数减小,在电子辐照下,薄膜材料分子键发生断裂和交联,C—CO和C—N键断裂发生脱氧和脱氮反应,C—H基团相对含量增大。结论电子辐照将造成Kapton/Al薄膜材料力学性能降低,薄膜材料分子价健的断裂和交联是薄膜力学性能...

• 出版日期2015
• 单位北京卫星环境工程研究所; 哈尔滨工业大学