通过X射线光电子能谱 (XPS)分析研究了碳热还原氮化法制备的AlN微粉的表面结合状态。结果表明 :AlN微粉的表面有明显的氧化层存在 ;AlN微粉表面结合状态为Al—O和Al—N复合型结合 ;杂质元素W主要是由球磨介质中的WC引入的 ,并以WO2 - 4形式分布于AlN微粉表面。
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