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Measurement of SiO2/InZnGaO4 heterojunction band offsets by x-ray photoelectron spectroscopy (vol 98, 242110, 2011)
作者：Douglas E A; Scheurmann A; Davies R P; Gila B P; Cho Hyun
*
; Craciun V; Lambers E S; Pearton S J; Ren F
来源：
Applied Physics Letters
, 2011, 99(5): 059901.
DOI：10.1063/1.3617417
出版日期
2011-8-1
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