摘要

随着TD-SCDMA无线通信系统商用的成熟,研究多核手机芯片的非信令模式符合终端测试发展需求。通过对TD-SCDMA下行同步过程的研究,设计了快速的非信令模式下行同步实现方案,同时结合多核手机芯片的特点充分优化下行同步过程的实现。实现结果表明,该下行同步方案处理时延40μs左右,频偏估计结果的均值和标准差分别稳定在10 Hz、32 Hz左右,能够用于简化多核终端生产测试过程,具有一定的工程应用价值。