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Resonance Raman mapping as a tool to monitor and manipulate Si nanocrystals in Si-SiO2 nanocomposite

作者：Rani Ekta; Ingale Alka A; Chaturvedi A; Joshi M P; Kukreja L M
来源：Applied Physics Letters, 2015, 107(16): 163112.
DOI：10.1063/1.4934664
  • 出版日期2015-10-19

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更新时间：2024-03-13 16:22