登录
免费注册
首页
论文
论文详情
赞
收藏
引用
分享
科研之友
微信
新浪微博
Facebook
分享链接
UMC-scan test methodology: Exploiting the maximum freedom of multicasting
作者:Tzeng Chao Wen
*
; Huang Shi Yu
来源:
IEEE Design & Test of Computers
, 2008, 25(2): 132-140.
DOI:10.1109/MDT.2008.55
出版日期
2008-4
单位
清华大学
全文
全文
访问全文
相似论文
引用论文
参考文献