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Device-Circuit Co-Optimization for Robust Design of FinFET-Based SRAMs

作者：Gupta Sumeet Kumar*; Roy Kaushik
来源：IEEE Design & Test, 2013, 30(6): 29-39.
DOI：10.1109/MDAT.2013.2266394
  • 出版日期2013-12

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更新时间：2018-01-18 09:53