通过提取芯片图像中暗点、边缘、块数、面积和亮点等5种与芯片位置无关而且相互独立、易于提取的图像特征,建立正态分布模型,利用新识别出的损坏或缺陷芯片自动修正模型参数,提高模型的准确度.基于最小风险贝叶斯模式识别构造出各种损坏和缺陷芯片的分类器,对污损、烧蚀、碎裂和电极缺失芯片的正确识别率可以达到90%以上.
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