调试功率放大电路中常见问题的探讨与解决方案

作者：张浩; 张建荣

来源：电子测试, 2015, (24): 68-69.

DOI：10.16520/j.cnki.1000-8519.2015.24.034

• 晶体管
• 非线性失真
• 热击穿 transistor
• nonlinear distortion
• thermal breakdown

针对功率放大电路中接地方式,波形失真以及热击穿三种常见问题做出解释并对提出解决方案。在功率放大电路中添加电容,电阻等元件改进电路稳定性。

• 出版日期2015
• 单位山西大学