口腔颌面部CT能谱成像降低金属伪影的效果评价

作者：孙琦; 董敏俊; 杨星; 姜梦达; 陶晓峰

来源：上海口腔医学, 2017, 26(06): 646-649.

DOI：10.19439/j.sjos.2017.06.016

• 计算机断层扫描
• 金属伪影
• 能谱CT成像
• 颌面部

目的 :评估能谱CT单能量成像在口腔颌面部降低金属伪影的应用效果。方法 :对46例金属植入物患者进行能谱CT成像,并测量CT值和软组织的SD(标准差)值。生成11个单能量图像组(40~140 ke V,每10 ke V为1组),并进行量化分析。采用SPSS 19.0软件包进行正态性检验和方差检验。结果:20例有正畸矫治器的患者,AI最小值平均为(23.86±10.90)~(24.42±11.54)HU;同样,12例钛板植入物患者,AI最小值平均为(26.49±9.40)~(26.95±8.97)HU;14例牙充填物或固定义齿患者,其中10例AI最小值平均为(29.84±13.04)~(30.97±13.15)HU。3组平均AI值分别为(63.36±70.52)、(70.82±105.14)和(107.35±147.57)HU,与各组70 ke V单能量的平均AI值(61.46±32.06)、(70.18±62.86)和(110.28±78.70)HU相似。3组不同金属植入物患者的能谱扫描平均AI值有显著差异(P<0.05)。结论 :能谱CT成像能明显减少金属伪影的干扰,显著提高金属植入物周围结构的显示能力。70 ke V是金属伪影显著降低的一个分界点;在口腔颌面部区域,去除金属伪影的最佳单能量值范围在110~140 ke V。

• 出版日期2017
• 单位上海交通大学医学院附属第九人民医院