全封闭组合电器(GIS)母线接头射线CR检测工艺探讨

作者：黄纯德; 李文亮

来源：科技资讯, 2013, (36): 85-87.

DOI：10.16661/j.cnki.1672-3791.2013.36.055

• 全封闭组合电器
• 母线接头
• X射线数字成像
• 曝光量

本文通过试验并结合有关标准制作了、针对全封闭组合电器(GIS)母线接头检测工艺卡,按此工艺卡选择参数检测GIS设备母线接头,其CR图像质量完全满足观察要求,为今后电网GIS设备母线接头状态监测提供了新的有效途径。

• 出版日期2013
• 单位山西电力科学研究院