Buck电路IGBT老化失效的特征分析

作者：姜志鹏; 阎浩; 杨娟

来源：现代电子技术, 2016, (08): 126-129.

DOI：10.16652/j.issn.1004-373x.2016.08.033

• IGBT
• Buck电路
• 老化失效
• 特征分析 IGBT
• Buck circuit
• aging failure
• feature analysis

绝缘栅双极型晶体管(IGBT)常被应用于汽车、火车的电机控制系统以及航空航天设备的开关电源中。IGBT的失效会导致系统的效率下降,严重的会直接导致系统失效。通过识别和监测IGBT失效所导致电路特性参数的变化可以做到对其失效的预测和避免。为研究IGBT老化是否会对电路输出特性造成影响,以Buck电路为研究对象,设计了大电流下便于替换IGBT的Buck电路,对IGBT进行热应力老化实验,获取老化后的IGBT,并将老化后的IGBT引入到设计的Buck中,实验分析了IGBT老化对于Buck电路输出电压的影响。得出IGBT的老化会导致Buck电路输出电压平均值增大、高频杂波幅值增大的结论,为进一步实现电...

• 出版日期2016
• 单位金陵科技学院