光电二极管批量快速测试系统的设计与实现

作者:高传顺; 马华平; 唐遵烈; 颜嘉俊; 张娜
来源:半导体光电, 2018, 39(01): 47-56.
DOI:10.16818/j.issn1001-5868.2018.01.010

摘要

随着光电二极管的用量不断增大,手动测试筛选已满足不了测试需求,定制自动测试系统又存在成本较高、不易推广的缺点。为提高测试效率、解放人力资源及便于测试系统推广,采用一台KEITHLEY 2400源表及开关控制板构建了批量快速测试系统。开关控制板的阵列开关采用两片1∶8多路复用器实现,与采用继电器实现相比,降低了硬件设计难度及复杂度。将开关控制部分与器件载体部分分别设计在两块电路板上,并用两块载体板交替完成器件安装与测试,能实现器件插拔与器件测试并行进行,缩短了测试等待时间。将测试控制、参数测试及数据处理流程化,使测试效率得到了进一步提高。试验结果表明:搭建的测试系统可实现一批64只器件的一键式测试,每只器件单个参数平均测试时间不到1s,且测试准确度较高。

  • 出版日期2018