As(V)在TiO_2表面的吸附机理

作者：张美一; 何广智; 丁程程; 陈灏; 潘纲

来源：Acta Physico - Chimica Sinica, 2009, (10): 2034-2038.

• TiO2
• As(V)
• 吸附
• 延展X射线吸收精细结构
• 密度泛函理论
• 微观吸附构型 TiO2
• As(V)
• Adsorption
• Extended X-ray absorption fine structure
• Density functional theory
• Microscopic adsorption mode

用延展X射线吸收精细结构(EXAFS)光谱和密度泛函理论(DFT)研究了As(V)-TiO2体系的吸附机理.离子强度变化对As(V)-TiO2体系吸附无显著影响,表明吸附后形成了内层络合物.EXAFS结果表明,As(V)原子主要通过—AsO4上的O原子结合到TiO2表面上,平均As-O原子间距(R)在吸附前后无明显变化,保持在(0.169±0.001)nm.As-Ti层的EXAFS分析结果与DFT计算的吸附构型的As-Ti原子间距对照表明,体系存在两种主要亚稳平衡吸附(MEA)结构,即对应于R1=(0.321±0.002)nm的双角(DC)强吸附构型和R2=(0.360±0.002)nm的单角...

• 出版日期2009
• 单位中国科学院生态环境研究中心