摘要

目的探讨氢对大鼠局灶性脑缺血再灌注时线粒体膜电位的影响。方法健康成年雄性SPF级SD大鼠84只,体重220~240 g,采用随机数字表法分为3组(n=28):假手术组(Sham组)、脑缺血再灌注组(I/R组)和氢气组(H2组)。I/R组和H2组采用大脑中动脉闭塞法制备局灶性脑缺血再灌注损伤模型。H2组于再灌注即刻和再灌注12 h时分别腹腔注射氢气10 ml/kg。于再灌注24 h时进行神经功能缺损评分;然后处死大鼠,取皮质区脑组织,光镜下观察病理学结果 ,采用TTC染色法测定脑梗死体积,TUNEL法测定神经细胞凋亡指数(AI),JC-1法测定线粒体膜电位水平,Western blot法测定Bcl-2及Bax的表达水平。结果与Sham组比较,I/R组和H2组神经功能缺损评分、脑梗死体积百分比和AI升高,线粒体膜电位水平降低,脑组织Bax表达上调,Bcl-2表达下调(P<0.05);与I/R组比较,H2组神经功能缺损评分、脑梗死体积百分比和AI降低,线粒体膜电位水平升高,脑组织Bax表达下调,Bcl-2表达上调(P<0.05),脑组织病理学损伤减轻。结论氢减轻大鼠局灶性脑缺血再灌注损伤的机制可能与减少线粒体膜电位的耗散,抑制神经细胞凋亡有关。