一种双阵列超声成像检测方法及检测装置

作者:庄泽宇; 马骥; 宋波; 桂生; 王建; 毛捷; 廉国选; 周昌智; 易一平
来源:2022-01-11, 中国, ZL202210025094.2.

摘要

本发明属于超声波无损检测和粗晶材料或焊缝的检测技术领域,具体地说,涉及一种双阵列超声成像检测方法及检测装置,该方法包括:将第一超声换能器阵列和第二超声换能器阵列选取特定的耦合方式进行耦合,并相对对称放置在待测工件的两侧,记录待测工件分别与上述两个换能器阵列的相对位置;针对第一超声换能器阵列和第二超声换能器阵列,采用不同的全矩阵发射接收模式,向待测工件发射超声波,获得不同的全矩阵数据体,再结合全聚焦成像方法,获得全聚焦成像幅值,并进行归一化处理,获得成像检测结果;根据成像检测结果,判定待测工件中是否有缺陷。