低磨料质量分数碱性阻挡层抛光液的研究

作者:洪姣; 牛新环; 刘玉岭; 王辰伟; 王如; 孙鸣; 高宝红; 岳昕; 李祥州; 李月
来源:微纳电子技术, 2016, 53(08): 558-562.
DOI:10.13250/j.cnki.wndz.2016.08.011

摘要

主要研究了低磨料质量分数阻挡层抛光液的抛光性能,并将其与商用抛光液进行了对比。由实验结果可以看出,当固定抛光液中的磨料质量分数时,铜的去除速率随着磨料粒径的减小而升高。当固定磨料粒径不变时,铜的去除速率随着磨料质量分数的升高而迅速升高,而钽略有升高但不明显。当磨料质量分数为5%时,铜和钽的去除速率选择比最优。通过对比实验可以看出,用磨料质量分数为5%的抛光液抛光后,晶圆表面粗糙度较商用抛光液降低了约30%,并且磨料质量分数为5%的抛光液抛光后的晶圆蝶形坑明显优于商用抛光液抛光后的晶圆蝶形坑。

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