登录
免费注册
首页
论文
论文详情
赞
收藏
引用
分享
科研之友
微信
新浪微博
Facebook
分享链接
Design for silicon debug of integrated circuit by reusing test logic
作者:Zhang Ming; Gao Jun; Zhang Min Xuan
来源:
Journal of Shanghai Jiaotong University
, 2013, 47(1): 55-59+64.
Build in self tests
Design stage
Improved structures
Physical design
Scan chain
Silicon debug
Static memory
Test logic
出版日期
2013-1
全文
全文
访问全文
相似论文
引用论文
参考文献