登录
免费注册
首页
论文
论文详情
赞
收藏
引用
分享
科研之友
微信
新浪微博
Facebook
分享链接
Fault diagnosis with Bayes of sequential discrete event mechatronic systems based on Petri net
作者:Cai, Lu; Xu, Li Ming
*
; Chai, Yun Dong; Hao, Sheng Qiao
来源:
Journal of Shanghai Jiaotong University
, 2011, 45(11): 1643-1646+1652.
Bayes method
Certification methods
Discrete events
Material transfers
Mechatronic systems
Prior knowledge
Real time monitoring
Series connections
出版日期
2011
单位
上海交通大学
全文
全文
访问全文
相似论文
引用论文
参考文献