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A defect analysis-oriented relation model of circuit yield and reliability
作者:Xiao Jie
*
; Jiang Jian Hui; Yang Xu Hua; Liang Jia Rong
来源:
Acta Electronica Sinica
, 2014, 42(4): 747-755.
DOI:10.3969/j.issn.0372-2112.2014.04.020
Gate-level circuits
Generalized gate
Growth characteristic
Layout structure
Topological structure
出版日期
2014-4
单位
同济大学
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