科研之友ScholarMate
免费注册
首页 论文 论文详情
赞 收藏 引用

Atomic XAFS as a tool to probe the electronic properties of supported noble metal nanoclusters

作者：van der Eerden AMJ; Visser T; Nijhuis A; Ikeda Y; Lepage M; Koning**erger DC; Weckhuysen BM*
来源：Journal of the American Chemical Society, 2005, 127(10): 3272-3273.
DOI：10.1021/ja043107l
  • 出版日期2005-3-16

全文

全文

访问全文
收藏 分享 被引(33) 浏览
更新时间：2024-04-04 10:58