文章从分析AM-OLED驱动控制芯片的测试需求和芯片结构出发,提出了一种针对该驱动芯片的测试电路设计方案。该方案采用对芯片内的多个功能模块进行隔离,保证了各个模块有较高的测试独立性。考虑到内置SRAM的特殊性,采用FPGA可编程测试,提高了测试的灵活性,大大提高了Source Driver测试的可控性,减少了测试管脚数目,节约了测试成本。
科研之友
微信
新浪微博
Facebook
分享链接
