闭腔法测量微波介质材料参数的研究

作者:曹良足; 曹达明
来源:电子元件与材料, 2011, 30(12): 9-12.
DOI:10.14106/j.cnki.1001-2028.2011.12.022

摘要

采用TE01δ模闭腔法,推导了介电常数和介质损耗的计算公式。制作了4种介质谐振器,分析了支撑物的材质及高度、耦合的结构及强弱、金属腔材质对所制介质谐振器的谐振频率和品质因数Q值的影响。结果表明:较高的聚四氟乙烯支撑使介质谐振器有较高的有载Q值,弱的耦合使有载Q值非常接近无载Q值,高Q值的金属腔利于介质材料Q值的精确测量。

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