ALT在电子产品中的应用分析

作者：李军; 王玉梅

来源：环境技术, 2012, (05): 19-21.

• 电子产品
• 可靠性
• 加速寿命试验 electronic products
• reliability
• accelerated life test

加速寿命试验是预测产品可靠性的重要方法,在实践中得以广泛应用。本文简要分析加速寿命试验的原理,并探讨它在电子产品中的应用。

• 出版日期2012
• 单位中国工程物理研究院电子工程研究所