AMOLED的像素测试电路的量测方法

作者：董杭

来源：2014-11-28, 中国, ZL201410714448.X.

本发明提供一种利用具有4个独立探针的TEG量测机台对AMOLED的nTmC结构的像素测试电路进行量测的量测方法,通过分成补偿步骤,缓冲步骤,发光步骤等多个阶段地进行量测,能够无需另外配置探针,也无需选购配置有足够多的独立探针的量测机台,即能够对像素测试电路进行量测,从而能够实现一般的TEG量测机台的通用性,节约用于测试的配套设备成本。