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Modulation of microstructure and interface properties of co-sputter derived Hf1-xTixO2 thin films with various Ti content

作者：Das K C; Ghosh S P; Tripathy N; Singhal R; Kar J P
来源：Journal of Materials Science: Materials in Electronics , 2017, 28(17): 12408-12414.
DOI：10.1007/s10854-017-7061-9
  • 出版日期2017-9

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更新时间：2021-01-17 05:04