摘要

为了探究内隐面孔再认在记忆形成过程中的认知加工状态,该实验以陌生面孔为刺激,采用事件相关电位(ERP)技术,并结合相继记忆(Dm)范式和迫选再认测验,把学习阶段的面孔分为相继记住、相继启动及相继忘记三类,以相继记住与相继启动的ERP差异为外显记忆Dm效应,以相继启动与相继忘记的差异为内隐记忆的Dm效应。结果表明,内隐记忆表现为400~500 ms额中央区负走向的Dm效应,可能反映了额叶皮层对信息的精加工过程,而外显记忆表现为400 ms开始顶区正走向的Dm效应,可能反映了记忆系统对加工后信息的自动登记过程。由此推测,只有经过额叶加工并被内侧颞叶自动登记的信息,随后才能被有意识地提取出来,而未进...