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摘要
本发明提出了一种基于粒子群优化算法的SMT产线检测阈值设定方法,用于解决现有技术中存在的因为SMT产线的检测阈值设定不合理导致的产品合格率较低的技术问题,实现步骤为：获取关联数据表,然后获取阈值设定数据表,采用粒子群优化算法计算设定阈值,最后获取最优阈值。本发明利用SMT产线的生产数据,并将SMT产线上SPI锡膏检测仪的检测合格率用于计算粒子群优化算法中的个体适应度,通过粒子群优化算法的迭代之后,能够获得的多组检测阈值能提高SPI锡膏检测仪的检测合格率,从而提高SMT产线的产品合格率,并且降低了获取到的多组检测阈值全部不满足生产工艺要求的风险。
- 出版日期2019-7-15
- 单位西安电子科技大学
