通过加速老化实验对LED器件可靠性的研究

作者：陈宇; 黄帆; 严华锋; 殷录桥; 张建华; 李志君

来源：照明工程学报, 2011, S1: 34-38.

DOI：10.13223/j.cnki.ciej.2011.s1.001

• LED器件
• 光衰率
• 色温
• 结温
• 热阻
• 可靠性 LED packages
• luminous decay rate
• CCT(correlated color temperature)
• junction temperature
• thermal resistance
• reliability

本文描述依据EIAJED-4701/100和IEC 60749-25标准,设计了加速条件为-25℃/125℃的高低温循环加速老化实验。通过3组1W的LED器件和1组COB(chip on board)集成封装LED器件的加速老化,分析了光电热等特性随老化时间的变化情况。加速老化实验结果表明,不同结构材料封装的LED器件光衰速率不同,蓝光LED器件的主波长变化不明显,白光LED器件色温略有变化;器件的结温、热阻随老化时间呈升高趋势;各组LED器件的失效情况相差很大;COB器件的光通量维持率与失效情况都优于普通功率型LED。本实验表明了高低温循环加速老化的实验方法对评价LED的可靠性有重要的参考意...

• 出版日期2011
• 单位上海亚明灯泡厂有限公司; 上海大学