摘要

力学弛豫引起内耗,内耗产生的内在因素是材料的结构特点和结构缺陷。通常的内耗仪,应为低频力学弛豫谱仪。文章对新研制成功的LMR———1型低频力学弛豫谱仪的原理、结构以及计算机控制软件作了概括介绍。

  • 出版日期2004
  • 单位苏州市职业大学