电晕老化前后100HN和100CR聚酰亚胺薄膜的电导电流特性实验研究

作者：雷清泉; 石林爽; 田付强; 杨春; 何丽娟; 王毅

来源：中国电机工程学报, 2010, (13): 109-114.

DOI：10.13334/j.0258-8013.pcsee.2010.13.015

• 聚酰亚胺薄膜
• 纳米掺杂
• 电晕老化
• 电导电流
• 电介质 polyimide film
• nanoparticle
• corona aging
• conduction current
• dielectric

为研究无机纳米掺杂对聚酰亚胺电荷输运特性的影响,测量了美国杜邦公司生产的原始聚酰亚胺薄膜(100HN型)和纳米Al2O3掺杂耐电晕聚酰亚胺薄膜(100CR型)电晕老化前后的电导电流特性。实验发现,电晕老化前100CR的欧姆区电流明显大于100HN的,而空间电荷限制电流区的电流则明显小于100HN的;电晕老化后,100HN陷阱载流子密度和电老化阈值都减小,而100CR的对应值均增大。分析实验结果后得知,纳米掺杂既可能增加导带热激发自由电子浓度,又可能增大聚合物中电荷陷阱的深度和密度,这2种因素对电导电流的影响效果是相反的,分别主导着低场强和高场强电导电流大小的变化。此外,电晕老化对100CR和1...

• 出版日期2010
• 单位上海交通大学; 北京交通大学; 哈尔滨理工大学