Flash型FPGA单粒子效应测试系统设计

作者：陈晨; 徐微; 张善从

来源：电子测量技术, 2014, (09): 70-78.

DOI：10.19651/j.cnki.emt.2014.09.016

• Flash型FPGA
• 单粒子效应
• 加固技术验证
• 自动测试 flash-based FPGA
• single event effect
• verification of hardening technology
• automated test

通过分析Flash型FPGA芯片的基本结构和应用需求,设计了针对各个FPGA功能模块的试验方法,并实现了一套单粒子效应测试系统。对Actel ProASIC3系列Flash型FPGA进行单粒子翻转(SEU)、单粒子功能中断(SEFI)以及单粒子闩锁(SEL)等各类单粒子效应进行测试,并验证抗单粒子效应加固技术的有效性。测试系统包含硬件板卡设计、FPGA逻辑设计以及上位机软件设计等过程,并引入了自动测试技术优化测试流程。最终,测试系统能够满足单粒子效应试验的要求。

• 出版日期2014
• 单位中国科学院大学; 中国科学院空间应用工程与技术中心