改进Tent混沌序列的数字电路BIST技术

作者：朱敏; 王石记; 杨春玲

来源：哈尔滨工业大学学报, 2010, (04): 607-611.

• 时序电路
• Tent混沌0-1序列
• 内建自测试
• 循环冗余码 sequential circuits
• tent chaotic 0 -1 sequence
• BIST
• CRC

针对目前数字电路规模变大,测试困难的特点,提出了一种基于改进Tent混沌序列的数字电路BIST技术.采用改进混沌Tent映射模型构建硬件电路并产生具有白噪声特性的"0-1"随机序列作为数字电路的自动测试生成图形,利用CRC特征电路分析输出响应,并得到混沌序列的测试响应特征码,通过特征码的不同来检测故障.研究表明,本文方法易于BIST技术实现,相比于普通M序列性能优越,能够得到更高的故障检测率和故障隔离率,适合于FPGA等大规模可编程逻辑电路的自动测试.

• 出版日期2010
• 单位哈尔滨工业大学