Mapcheck的剂量学质量保证

作者：李承军; 张爱华; 王陆洲; 阮长利; 徐利明

来源：中国医学物理学杂志, 2010, (03): 1833-1836.

• 二级管阵列
• 质量保证 diode array
• quality assurance

目的:评价我中心新购美国Sun Nuclear公司生产二维半导体阵列Mapcheck的剂量学特点。方法:使用美国瓦里安公司23EX直线加速器高能光子束照射Mapcheck研究其重复性,线性以及验证其本身阵列校准方法的准确性;同时在研究其重复性,脉冲率依赖性及输出因子时使用德国PTW30013电离室测量数据并比较。结果:实施Mapcheck专用阵列校准方法后在0o和180o测量结果差异介于-0.5%至0.7%之间。矩阵重复性最大标准差是±0.16%,中心轴半导体探头(C点)12次测量标准差为0.065%。中心探头随剂量率变化最大范围是0.78%。同指形电离室结果比较,小于4cm×4cm射野时,M...

• 出版日期2010
• 单位武汉大学人民医院