一种基于测试模式的MCU低功耗测量方法

作者：丁伟

来源：集成电路应用, 2021, 38(02): 20-21.

DOI：10.19339/j.issn.1674-2583.2021.02.008

• MCU芯片
• 低功耗
• 测试模式
• 测试成本

通过对现有测试模式电路的改进,阐述在测试模式下实现功能模式相同的低功耗场景,达到测量MCU芯片最低功耗的目的。该方法简单快捷,降低了对测试基台的要求,节省了测试时间。

• 出版日期2021
• 单位上海贝岭股份有限公司