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摘要
在取向不同的ＣｄＴｅ衬底上用液相外延技术生长了Ｈｇ１－ｘＣｄｘＴｅ薄膜，结合金相显微镜、红外显微镜、Ｘ射线双晶衍射、红外吸收及Ｒａｍａｎ光谱等手段分析了不同邻晶面外延层的性质，结果表明，在“近平面”（衬底偏角δ＜０１°）或“无台阶面”（δ≈１２°）上生长的外延层的晶格质量及光学性能较好
- 出版日期1997
- 单位中国科学院上海技术物理研究所
在取向不同的ＣｄＴｅ衬底上用液相外延技术生长了Ｈｇ１－ｘＣｄｘＴｅ薄膜，结合金相显微镜、红外显微镜、Ｘ射线双晶衍射、红外吸收及Ｒａｍａｎ光谱等手段分析了不同邻晶面外延层的性质，结果表明，在“近平面”（衬底偏角δ＜０１°）或“无台阶面”（δ≈１２°）上生长的外延层的晶格质量及光学性能较好
