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Postsilicon Adaptation for Low-Power SRAM under Process Variation

作者：Cho Minki; Schlessman Jason; Mahmoodi Hamid; Wolf Marilyn; Mukhopadhyay Saibal*
来源：IEEE Design & Test of Computers, 2010, 27(6): 26-35.
DOI：10.1109/MDT.2010.137
  • 出版日期2010-12

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更新时间：2018-02-10 01:48