摘要
用大功率的MXP18-HFX射线衍射仪测量了金属与陶瓷连接处的残余应力分布.实验表明,该衍射仪X射线强度高,光斑细,适用于材料残余应力分布的精确测量.通过用它对金属-陶瓷界面应力梯度的测量,为残余应力的缓解提供了依据.
- 出版日期1997-1-15
- 单位中国科学院物理研究所; 北京有色金属研究总院
用大功率的MXP18-HFX射线衍射仪测量了金属与陶瓷连接处的残余应力分布.实验表明,该衍射仪X射线强度高,光斑细,适用于材料残余应力分布的精确测量.通过用它对金属-陶瓷界面应力梯度的测量,为残余应力的缓解提供了依据.