本文针对嵌入式系统的软硬件环境以及当前反走样技术的发展,依次对嵌入式图形系统和反走样技术进行阐述,结合当前研究的特点分别对图形系统中直线和三角形两种重要的处理片元的反走样技术进行研究,为嵌入式系统中图形发走样的发展提供一定的参考。
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