改进型双滤光片切换器(IR-CUT)测试机的设计

作者：文海明; 余毅

来源：廊坊师范学院学报(自然科学版), 2014, 14(06): 50-52.

• IR-CUT
• 测试次数
• 测试时间间隔
• 模式选择

采用Microchip公司的16位高性能控制芯片,构建了改进型IR-CUT测试机,能实现多通道多次连续测试,测试时间间隔可调,支持三种供电电压模式选择。经过实践验证,测试机台运行稳定,测试过程安全可靠,方便常规作业。

• 出版日期2014
• 单位江西工业工程职业技术学院