SOI材料非对称脊型波导结构PDL标准样品研究

作者：李健; 安俊明; 徐楠; ***; 李建威

来源：光学技术, 2010, (05): 733-735.

DOI：10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2010.05.017

• 脊型波导
• 偏振相关损耗
• SOI材料 ridge waveguide
• polarization dependent loss
• SOI material

通过制备非对称结构SOI脊型波导,设计并优化得到一个偏振相关损耗标准样品,通过与标准单模光纤耦合封装,实现了偏振相关损耗测试仪表的快速校准。该器件偏振相关损耗值为0.58dB,测量重复性相对标准差为0.02,测量不确定度为0.2dB。

• 出版日期2010
• 单位中国计量科学研究院