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A method for measuring complicated deep-hole profile using line-structured-light sensor
作者:Leng Hui Wen; Xu Chun Guang
*
; Xiao Ding Guo; Wang Dong Xing
来源:
Transactions of Beijing Institute of Technology
, 2013, 33(2): 139-143.
3-D measurement systems
Barycenters
Complicated deep-hole
Diameter Measurement
Line-structured-light
Measurement principle
Stripe thinning
System configurations
出版日期
2013-2
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