Arrhenius方程应用新方法研究

作者：马卫东; 吕长志; 李志国; 郭春生; 郭敏; 李颖

来源：微电子学, 2011, (04): 621-626.

• Arrhenius方程
• 恒定电应力温度斜坡法
• 激活能 Arrhenius equation
• Constant electrical stress and temperature ramp method
• Activation energy

提出了一种快速评价电子元器件的新方法,该方法具有快速、准确、成本低、效率高等优点。利用Arrhenius方程,能快速准确地确定元器件退化的失效敏感参数和退化机理;可对单样品求出与失效机理相关的失效激活能和寿命;通过多样品试验,可得到寿命分布、寿命加速特性和失效率等可靠性参数。以DC/DC电源变换器和高频小功率管3DG130为例,通过实验与现场数据的对比,证明了新方法的正确性和有效性。该方法适用于失效率优于10-7/h(λ<10-7/h)的高可靠性产品的定量评价。

• 出版日期2011
• 单位北京工业大学