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Second Comment on: "Characterization of Micro-roughness Parameters in Titanium Nitride Thin Films Grown by DC Magnetron Sputtering" [J Fusion Energ DOI 10.1007/s10894-012-9534-4]
作者:Solaymani Shahram
*
; Ghaderi Atefeh; Naseri Mosayeb; Nezafat Negin Beryani; Bouchani Arash
来源:
Journal of Fusion Energy
, 2012, 31(6): 593-594.
DOI:10.1007/s10894-012-9561-1
Fractal dimension
Sampling distance
2D AFM
出版日期
2012-12
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