摘要

首先讨论了ALICE光子谱仪前端电子学的物理需求,介绍了光子谱仪前端电子学测试系统.采用该系统对光子谱仪前端电子学系统板(FEE)进行了检测,检测表明现行设计的前端电子学系统板的物理性能已达到了ALICE实验的预期物理目标.