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摘要
针对传统的基于纹理特征的跟踪算法采用统计直方图描述目标,表达不够精确且计算量较大的问题,提出一种基于多级量化的局部纹理特征的点对点的图像跟踪算法.首先定义了一种高维纹理特征,其对单个的点具有较强的描述能力;随后通过矢量运算进行点对点匹配,根据匹配得出的点集的空间位置,利用均值漂移矢量实现初步定位;最后通过连续缩放窗口比例,同时使用颜色信息验证候选窗口与原始窗口的相似度,确定目标的位置和尺度.实验结果表明,该算法在场景复杂、噪声较大的环境中仍能准确地搜索到目标;在目标尺度变化时也具有较强的鲁棒性.
- 出版日期2015
- 单位同济大学; 中国科学院半导体研究所; 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所
