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Analytical modeling of subthreshold characteristics of ion-implanted symmetric double gate junctionless field effect transistors
作者：Singh Balraj; Gola Deepti; Singh Kunal; Goel Ekta; Kumar Sanjay; Jit Satyabrata
来源：
Materials Science in Semiconductor Processing
, 2017, 58: 82-88.
DOI：10.1016/j.mssp.2016.10.051
出版日期
2017-2
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