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摘要
靶丸内表面掺杂诊断元素可以为内爆压缩界面的研究提供必要的手段。以二甲基二乙氧基硅烷为原料,利用乳液微封装技术和界面聚合技术可以实现单一内表面掺硅的空心聚苯乙烯微球的制备。X光照相和X能谱分析表明:内表面掺硅量比外表面高出2～3个数量级。均匀内表面掺硅层的厚度小于0.3μm,掺杂层厚度越小,均匀性越好。
- 出版日期2004
- 单位中国工程物理研究院激光聚变研究中心
靶丸内表面掺杂诊断元素可以为内爆压缩界面的研究提供必要的手段。以二甲基二乙氧基硅烷为原料,利用乳液微封装技术和界面聚合技术可以实现单一内表面掺硅的空心聚苯乙烯微球的制备。X光照相和X能谱分析表明:内表面掺硅量比外表面高出2～3个数量级。均匀内表面掺硅层的厚度小于0.3μm,掺杂层厚度越小,均匀性越好。
