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Neural network Hilbert transform based filtered backprojection for fast inline x-ray inspection

作者：Janssens Eline; De Beenhouwer Jan; Van Dael Mattias; De Schryver Thomas; Van Hoorebeke Luc; Verboven Pieter; Nicolai Bart; Sijbers Jan
来源：Measurement Science and Technology, 2018, 29(3): 034012.
DOI：10.1088/1361-6501/aa9de3
  • 出版日期2018-3

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更新时间：2021-03-17 06:55