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Measurement on the residual stress of silicon power rectifier induced in its fabrication through using the infrared photoelasticity
作者:Wang Yuzhong; Zhao Shounan; Huang Lan
来源:
Journal of Infrared and Millimeter Waves
, 1995, 14(6): 447-450.
Infrared photoelastic measurement
Silicon power rectifier
出版日期
1995
单位
华南理工大学
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